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기존 메모리 오류 검출 방식은 정적 메모리(글로벌 변수, 로컬 변수, 스택 영역) 오류를 분석하기 어려웠고, 시스템 크래시 발생 시 원인 파악이 어려웠습니다. 본 기술은 애플리케이션 실행 전에 정적 메모리 정보를 추출하여 인포메이션 태그 저장부에 저장합니다. 이를 동적 메모리 정보와 결합하여 정적 및 동적 메모리의 결함을 모두 검출하며, 크래시 발생 시 커널의 시그널 핸들러를 교체하여 발생 시점의 메모리 정보와 콜 스택을 수집합니다. 이를 통해 메모리 오류 검출의 정확성을 크게 향상하고, 크래시 원인을 명확하게 파악하여 효율적인 프로그램 오류 수정과 시스템 안정성 확보가 가능합니다.
| 기술명 | 메모리 오류를 검출하는 방법 및 시스템 | ||
| 기관명 | 삼성전자주식회사 이화여자대학교 산학협력단 | ||
| 대표 연구자 | |||
| 최병주 |
| 공동연구자 | - |
| 출원번호 | 1020180060689 | 등록번호 | 1025457650000 |
| 권리구분 | 특허 | 출원일 | 2018.05.28. |
| 중요 키워드 | 프로그램 안정성 향상스택 영역 결함소프트웨어 디버깅정적 메모리 오류로컬 변수 분석힙 영역 모니터링동적 메모리 오류시스템 크래쉬 분석메모리 오류 검출메모리 관리 시스템시그널 핸들러 교체오류 원인 파악애플리케이션 프로그램바이너리 분석 기술글로벌 변수 검출정보통신 | ||
| 1 | 기술이전 상담신청 |
| 2 | 연구자 미팅 |
| 3 | 기술이전 유형결정 |
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| 5 | 계약 및 기술료 입금 |

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